產(chǎn)品目錄
聯(lián)系方式
惠州市華高儀器設(shè)備有限公司
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號(hào)華貿(mào)大廈T3寫(xiě)字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號(hào)華貿(mào)大廈T3寫(xiě)字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
技術(shù)文章
- 菲希爾XAN500手持膜厚儀：高精度便攜測(cè)量
- 如何校準(zhǔn)X射線熒光鍍層測(cè)厚儀以確保測(cè)量精度？
- 貴金屬元素分析儀的校準(zhǔn)方法有哪些？
- 美國(guó)丹納赫E-MAX：革新重金屬檢測(cè)技術(shù)的便攜式X熒光分析儀
- 派克DA400S：高性能便攜式磁粉磁軛探傷儀，無(wú)損檢測(cè)的新選擇
- ROHS檢測(cè)光譜儀的基本工作原理介紹
- 貴金屬元素分析儀在貴金屬礦石勘探和礦產(chǎn)開(kāi)發(fā)中的作用是什么？
- 島津MIV-X超聲波光探傷裝置：創(chuàng)新技術(shù)無(wú)損檢測(cè)新時(shí)代
- ?？怂箍等鴺?biāo)Leitz Infinity：超高精度測(cè)量
- 日本電子JSM-IT800掃描電鏡：科研工業(yè)新選擇
產(chǎn)品中心
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號(hào) | 產(chǎn)品描述 |
-
和伍超聲掃描顯微鏡 設(shè)備整機(jī)尺寸750mm（長(zhǎng)）×700mm（寬）×1350mm（高）。安裝方案基于空間占用最小化和維護(hù)/服務(wù)條件需要，保證在設(shè)備周圍留有500mm的空間，可以方便工作人員進(jìn)行操作、維護(hù)。 -
和伍水浸超聲掃描顯微鏡 超聲掃描顯微鏡（SAT）是一種利用超聲波為傳播媒介的無(wú)損檢測(cè)成像設(shè)備，主要利用高頻超聲波，對(duì)各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測(cè)，能夠檢測(cè)出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過(guò)程中，不會(huì)對(duì)樣品造成損傷，不會(huì)影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。 -
日本電子熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。 -
日本電子掃描電鏡 日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。 -
日本電子掃描電子顯微鏡 JCM-700強(qiáng)大的“Zeromag“功能，讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式，輕松的無(wú)縫接軌到掃描電鏡的影像觀察?！癓ive Analysis“則實(shí)現(xiàn)了SEM影像觀察時(shí)實(shí)時(shí)的EDS成份分析。 -
掃描探針顯微鏡（SPM）是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描，通過(guò)高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。懸臂和樣品始終保持接觸，控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態(tài)下，掃描樣品表面的模式。這是Z典型的AFM模式，可以得到目前Z高分辨率圖像。懸臂在諧振頻率附近震動(dòng)。在懸臂震動(dòng)的狀態(tài)下懸臂接近樣品時(shí)振幅會(huì)發(fā)生變化。
