產(chǎn)品目錄
聯(lián)系方式
惠州市華高儀器設(shè)備有限公司
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號華貿(mào)大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號華貿(mào)大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
產(chǎn)品中心
UX-720X射線熒光鍍層測厚儀
- 更新日期：2024-12-06
- 訪問次數(shù)：1582?
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720華唯
| 配置型號 | 探測器 | X光管 | 高壓電源 |
| Ux-720 M | AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口) | 上?？祁U維（國產(chǎn)） | 咸陽威思曼(國產(chǎn)) |
| Ux-720 H | AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口) | 上?？祁U維（國產(chǎn)） | spellman(進(jìn)口) |
| Ux-720 S | AMPTEK SDD X-123(進(jìn)口) | 上?？祁U維（國產(chǎn)） | spellman(進(jìn)口) |
產(chǎn)品指標(biāo)：
測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um(以材料元素判定)
測量層數(shù)：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數(shù)：0-50Kv，50W，側(cè)窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：3種自動切換；
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環(huán)境：非真空條件
數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式
準(zhǔn)直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義
樣品腔：330×360×100mm
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720產(chǎn)品介紹：
Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器)，測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。
采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便。
X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件，無損、快速和更準(zhǔn)確的特點，對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。
Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗證。
樣品移動設(shè)計為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率。
設(shè)計更科學(xué)，軟硬件配合，機(jī)電聯(lián)動，輻射安全高于國標(biāo)GBZ115-2002要求。
軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。
Ux-720標(biāo)準(zhǔn)配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜：100張
保險管：3支
計算機(jī)主機(jī)：品牌+雙核
顯示屏：19吋液晶
打印機(jī)：噴墨打印機(jī)
Ux-720可選配件
可升級為SDD探測器
可以實現(xiàn)全自動一鍵操作功能，準(zhǔn)直器自動切換，濾光片自動切換，開蓋隨意自動停，樣品測試照片自動拍照、自動保存，測試報告自動彈出，供應(yīng)商信息自動篩選和保存
X射線熒光鍍層測厚儀是一種用于測量各種基材表面涂層的厚度、成分和均勻性的儀器。它通過向待測物體表面發(fā)射X射線，利用物體表面的涂層中被激發(fā)出的熒光信號來分析涂層的厚度和成分。該儀器廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化工、制造業(yè)、質(zhì)量檢驗等領(lǐng)域。
X射線熒光鍍層測厚儀的特點：
1.非破壞性測試：該儀器是一種非破壞性測量方法，不會對被測物品造成任何損傷。
2.測量精度高：能夠測量非常薄的涂層厚度，精度可以達(dá)到0.1微米。
3.測量速度快：能夠在幾秒鐘內(nèi)完成一次測量，非常適合在生產(chǎn)線上進(jìn)行大量測量。
4.可適用于多種材料：適用于多種材料的涂層測厚，例如金屬、塑料和陶瓷等。
5.可靠性高：采用先進(jìn)的測量技術(shù)和設(shè)備，能夠保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
6.易于操作：操作簡單，需要較短的培訓(xùn)時間，即可掌握測量技能。