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日立熒光分析儀有害物質檢測儀
- 更新日期:2024-11-11
- 訪問次數:2729?
日立熒光分析儀有害物質檢測儀EA1000AIII是一臺針對ROHS無鹵指令中所禁止使用的有害物質元素進行快速便捷非破壞測量的能量色散型X射線熒光分析儀。除具備以往SEA1000系列的功能外,配備更高精度管理型軟件,實現(xiàn)高性價比,提高了1/3的測試時間,由于配備了無需液氧的檢測器,讓日常的維護變得簡便易于操作。
日立熒光分析儀有害物質檢測儀
產品簡介
EA1000AIII是一臺針對ROHS無鹵指令中所禁止使用的有害物質元素進行快速便捷非破壞測量的能量色散型X射線熒光分析儀。除具備以往SEA1000系列的功能外,配備更高精度管理型軟件,實現(xiàn)高性價比,提高了1/3的測試時間,由于配備了無需液氧的檢測器,讓日常的維護變得簡便易于操作。
特 點:
◆超高靈敏度 ◆RoHS 合金及貴金屬檢測設備
◆ 元素分析范圍(鋁Al-鈾U) ◆操作簡單方便
◆CCD超高解析圖像 ◆無需液態(tài)氮
◆自動辨別材質功 ◆自動分析能譜
◆電激發(fā)50KV-1mA(15kv、40kv、50kv)
◆準直器面積自動切換1mm、3mm、5mm
◆具備形狀、厚度、材質補正技術
◆超低檢測下限的(Cd:1.9ppm;Pb: 0.9ppm)
屬于各大廠認可針對塑料及電子組件中有害重金屬檢測之X射線熒光分析
RoHS/WEEE |
(1)滿足歐盟RoHS指令,以及各國針對電子電機產品中有有害物質含量的快速檢測分析,例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。 |
合金分析 |
(1)金屬材料質量控管 :合金中主成份的快速分析。 |
油品分析 |
(1)燃料中的硫含量對環(huán)境的影響 : XRF 為*檢測燃料中硫成份的工具(依據ASTM D4294) |
鍍層厚度分析 |
(1)分析電子部品電鍍層的厚度 |
環(huán)境分析 |
(1)可針對土壤、污泥、灰渣等進行快速有害物質的成分鑒定。 |
其他 |
(1)考古學古物分析 : 古物年代鑒定 日立熒光分析儀有害物質檢測儀 |