日本日立X射線熒光分析儀

• 更新日期：2024-11-11
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日本日立X射線熒光分析儀
EA1000VXX射線熒光分析儀與之前的機(jī)器SEA1000AII相比，每個(gè)樣品的測量時(shí)間*都縮短了。例如，樹脂類樣品測量時(shí)間縮短了約1/3，金屬類則縮短了1/10。實(shí)現(xiàn)了處理量（每天可測樣品數(shù)量）的飛躍性提高。

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日本日立X射線熒光分析儀

1. 快速測量

與之前的機(jī)器SEA1000AII相比，每個(gè)樣品的測量時(shí)間*都縮短了。例如，樹脂類樣品測量時(shí)間縮短了約1/3，金屬類則縮短了1/10。實(shí)現(xiàn)了處理量（每天可測樣品數(shù)量）的飛躍性提高。

表.1 為EA1000VX與SEA100AII樣品測量時(shí)間（平均值）

*Cd為20 ppm，除此以外的元素是為了達(dá)到100 ppm的檢測zui低限所必要的總共時(shí)間。（本公司推薦條件下實(shí)施）

2. 高技術(shù)率檢測器（Vortex）

不需要液氮，使用zui大15萬cps的高計(jì)數(shù)率檢測器（Vortex）測量高靈敏度化，實(shí)現(xiàn)快速測量及高精度測量等。

3. 通過環(huán)境限制物質(zhì)測量軟件Ver.2的各種新功能，強(qiáng)化了有害物質(zhì)測量功能—材料判斷功能

測量開始后短時(shí)間內(nèi)就可測量樣品的材質(zhì)種類。以往，在測量前需要選擇分析菜單，由于裝置可以自動(dòng)判斷材質(zhì)，不會(huì)在選擇分析菜單時(shí)感到迷茫。

4. 提高操作性—操作面板

根據(jù)操作面板的指示器和提示音，了解測量進(jìn)度。根據(jù)測量面板的進(jìn)度條，把握測量進(jìn)展。

5. 各種環(huán)境限制用的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

除RoHS指令的管理對(duì)象元素（Cd,Pb,Cr,Hg,Br）以外，我公司也開發(fā)和制造能對(duì)應(yīng)管理Cl、Sb、Sn等的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。

6. 自動(dòng)進(jìn)樣器（選購項(xiàng)）

自動(dòng)進(jìn)樣器zui多可連續(xù)測量12個(gè)樣品。

7. 通過環(huán)境限制物質(zhì)測量軟件Ver.2進(jìn)行數(shù)據(jù)集中管理和趨勢(shì)管理

使用精度管理軟件使測量時(shí)間變短，通過利用數(shù)據(jù)庫對(duì)據(jù)點(diǎn)內(nèi)測量數(shù)據(jù)進(jìn)行的集中管理（檢索、瀏覽、解析、編輯、印刷、報(bào)告書生成），可測量檢查的效率，達(dá)到消減成本。

日本日立X射線熒光分析儀