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UX-700 X射線熒光鍍層測厚儀|華高百科

X射線熒光鍍層測厚儀|華高百科

  • 更新日期:2024-12-06
  • 訪問次數(shù):2383?

X射線熒光鍍層測厚儀UX-700:本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測量,Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設(shè)計(jì),帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器,高分辨率的探測系統(tǒng),眾多Z佳條件的選擇,保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。

  X射線熒光鍍層測厚儀UX-700華唯
 

   配置型號(hào)

探測器

X光管

高壓電源

Ux-700 M

AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口)

上??祁U維(國產(chǎn))

咸陽威思曼(國產(chǎn))

Ux-700 H

AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口)

上海科頤維(國產(chǎn))

spellman(進(jìn)口)

Ux-700 S

AMPTEK SDD X-123(進(jìn)口)

上??祁U維(國產(chǎn))

spellman(進(jìn)口


  
X射線熒光鍍層測厚儀UX-700產(chǎn)品指標(biāo):
 
  測厚技術(shù):X射線熒光測厚技術(shù)
 
  測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
 
  測量下限:0.003um
 
  測量上限:30-50um(以材料元素判定)
 
  測量層數(shù):10層
 
  測量用時(shí):30-120秒
 
  探測器類型:Si-PIN電制冷
 
  探測器分辨率:149eV
 
  高壓范圍:5-50Kv,50W
 
  X光管參數(shù):5-50Kv,50W,側(cè)窗類;
 
  光管靶材:Mo靶;
 
  濾光片:鍍層濾光片
 
  CCD觀察:260萬像素
 
  微移動(dòng)范圍:XY15mm
 
  輸入電壓:AC220V,50/60Hz
 
  測試環(huán)境:非真空條件
 
  數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式
 
  準(zhǔn)直器:Ø0.5mm
 
  軟件方法:FlexFP-Mult
 
  工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義
 
  樣品腔:70*20mm
 
  整機(jī)重量:38kg
 
   UX-700產(chǎn)品介紹:
 
  本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測量,Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設(shè)計(jì),帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器,高分辨率的探測系統(tǒng),眾多*條件的選擇,保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
 
  X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
 
  Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動(dòng)平臺(tái),可以通過鼠標(biāo)的點(diǎn)擊操作,選擇樣品的多點(diǎn)測試,特別適應(yīng)于細(xì)小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測試。
 
  Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設(shè)備,測試樣品的部位清楚明了,同時(shí)攝像設(shè)備拍抓測試部位的圖片,和測試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測試報(bào)告中。
 
  Ux-700鍍層測厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi,不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制,在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。
  X射線熒光鍍層測厚儀
   UX-700 鍍層測厚方法:
 
  1.磁性涂層測厚法
 
  使用磁性測厚法可測鐵、鋼導(dǎo)磁金屬上面的所有非導(dǎo)磁金屬和所有非導(dǎo)電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
 
  2.渦流層層測厚法
 
  可以測量非導(dǎo)磁導(dǎo)電金屬上面非導(dǎo)電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
 
  3.X射線熒光法
 
  所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試,同時(shí)可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
 
  常用單位:
 
  微米(um),微英寸(u‘’)俗語“邁”,密耳(mil)
 
  1um=39.4邁, 1um=0.04mil
 
 

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